近年來，
X熒光光譜分析在各行業應用範圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得最多也最廣泛。那麽X熒光光譜技術的發展曆史怎麽樣呢？
X熒光光譜技術的發展
1959年我國從蘇聯引入了照相式X熒光光譜儀，這是中國第一次引進X熒光光譜分析儀。
1895年，德國物理學家倫琴發現了X射線。
1896年，法國物理學家喬治發現了X射線熒光。
1948年，弗裏德曼和伯克斯研製了第一台商品性的波長色散X射線熒光光譜儀。
1969年，美國海軍實驗室研製出第一台真正意義上的EDXRF光譜儀。
X熒光光譜儀的產生初始過程
從上麵的X熒光光譜儀的初始發展過程來看，熒光光譜分析儀這項技術比較年輕，從發現X射線熒光到出現X射線熒光光譜分析儀都不過一百年，最後應用到各種領域中的時間也才幾十年。
同樣，我國X熒光光譜分析也是光譜分析領域中較年輕的分析手段之一，1959年，我國請蘇聯專家來華在應化所舉辦了x光譜學習班，隨後，我國不斷開展X熒光光譜學習班，為之後中國X熒光光譜分析技術打好了基礎。
1981年，我國X光譜分析工作者出版了自己編著的書籍，由此可見，在這些年中，我國研究X熒光光譜的學者們做了不少的工作。
