現在大多數的采礦企業是將礦樣送至遠離現場的實驗室檢測，不但費時費力、成本昂貴，而且對於偏遠的地方，這樣做也是不切實際的。那擁有一款體積小、檢測速度快、分析數據穩定可靠的X熒光光譜分析儀必將成為礦產企業必備儀器。X熒光
光譜分析儀因其體積小、重量輕、檢測精度高，性能可靠，又可廣泛應用於勘探開采過程中各階段的礦樣成分分析，也越來越被更多的礦產企業所接受。
X熒光光譜儀（XRF）由激發源和探測係統構成。X射線管產生入射X射線，激發被測樣品，產生X熒光，探測器對X熒光進行檢測。
X熒光光譜分析儀還可以對礦場描繪以及品位控製。通過實時就地分析多個樣本，實現對開采計劃進行指導，有效地管理挖掘、爆破工作，在現場確定土壤、沉積物或者鑽孔樣本的地質成分，以有效控製勘探成本。它也能夠對礦石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進行快速的金屬元素含量分析。無論是進行原地檢測還是非原地檢測，功能強大的計算軟件能夠自動消除由於不同樣品的材質差異所造成的偏差，從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進行檢測，而無需其他任何數據輸入或者進行再次校準。根據對檢測精度的不同要求，測試時間僅需數秒到數分鍾。
